オプトショップ

天文に関する機器開発、技術開発のために、干渉計、顕微鏡、粗さ計、分光計、接触式および非接触式三次元測定装置などの測定機器を利用できます。ご利用には共同利用（施設利用）申請を行っていただく必要がありますが、お急ぎの場合は問合先まで連絡をください。測定機器は予約制ですのでご注意ください。

連絡先　：　atc-opto ( = at = ) ml.nao.ac.jp

お知らせ

(2024/ 1/ 4)　フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)は、修理不可の故障のため利用を終了しました。
(2022/10/28)　オプトショップ(光学測定機器)は、110号室から111号室に移動しました。

測定器予約

測定器予約状況

測定器予約

光学測定機器一覧

装置	付属機器
Zygo GPI レーザー干渉計	レンズ,鏡面の精度測定,基準面からの位相差を測定視野：直径100mm以下光源： He-Ne(632.8nm) 所有レンズ：平面レンズ，球面レンズF0.75，F1.5，F3.3，F7.2， F11
Mitsutoyo LEGEX910 ＣＮＣ３次元座標測定器	測定範囲： 900(x)×1000(y)×600(z) mm 指示誤差： (0.35+L/1000) μm (L:任意測定長[mm]) ※ＬＥＧＥＸ９１０は，センターの職員が操作を行います別途ご相談ください。
三鷹光器　NH3-SP 非接触３次元座標測定器	測定範囲： 150(x)×150(y)×120(z) mm 指示誤差： (0.1+0.3L/10) μm (L:任意測定長[mm]) ※一度センターの職員の指導受けてから使用してください
SolidSpec 3700 分光光度計	測定波長範囲：240～2600nm 光源：50Wハロゲンランプ重水素ランプ検出器：PMT（R928相当） InGaAs－PD 資料室内寸法：900(W)×700(D)×350(H）
UV-3600i Plus 分光光度計	本体　測定波長範囲：185～3300nm 　光源：ハロゲンランプ重水素ランプ　検出器：光電子増倍管(紫外可視域) 　　　　　InGaAsフォトダイオード(近赤外域) 　　　　　冷却型PbS光導電素子　資料室内寸法：150(W)×260(D)×140(H）大形試料室使用時　測定波長範囲：220～2600nm 　適応試料サイズ：　　透過試料：φ305mm/厚さ50mm以下，またはφ204mm/厚さ300mm以下　　反射試料：φ305mm/厚さ50mm以下
Nikon顕微鏡MM-40	上下移動量　150mm 微動テーブル付き画像取り込み可能
Keyence　VR-3200 ワンショット3Dマイクロスコープ	測定範囲：対角30 - 224mm 広視野モード & 高倍率モード測定可能高さ：10mm (広視野モード : ±5mm, ｌ高倍率モード : ±0.5mm ) 画像取り込み可能
その他	移動可能な測定器，基準器・ＦＩＳＢＡ社製干渉計（平面測定時時Ｄ＝１００ｍｍ，台内移動可能）・Ｋｅｙｅｎｃｅ社製顕微鏡(画像取り込み可）・セラミックスブロックゲージ（＜150ｍｍ）・ガラススケール：（50mm　ピッチ0.1mm），（250mm　ピッチ1mm）・ノギス：（300mm長，100mm幅）・マイクロメータ　（測定範囲0～150mm）

使用上の注意

光学測定機器は、国立天文台内および大学および研究機関の方がご利用出来ます。以下のルールを守って使用してください。

先端技術センターの施設利用申請をお願いします。お急ぎの方は問合先まで連絡してください。
測定機器の利用は予約制です。
- 測定機器が空いている場合は使用出来ますが、予約をしている方を優先とします。予約は「測定器予約(Web)」から行ってください。Webにアクセスできない場合は連絡をください。
3日間以上、長期にわたって測定機器を占有したい場合や通常と異なるセットアップを用いて測定を行いたい場合は、事前に相談してください。
光学測定機器は、原則として利用者が自ら使用することを前提としています。初めて利用する方で、操作が分からない方は遠慮なく申し出てください。
ミツトヨ接触式3次元測定器”LEGEX910”は、使い方の講習を受けた専任以外は使用できません。この測定器を希望する場合は、問合せをお願いします。
故障などの事情により利用できない場合がありますので、あらかじめご了承ください。
使用中に機器のトラブルなどが生じた場合は、必ず連絡してください。
使用中に機器の故障が起きた場合、ご利用側にあきらかな過失がある場合は、一部または全額負担していただく場合がありますので、ご了承ください。